Fourier-Transform-Infrarot-Mikroskop LUMOS II / Bruker Optik GmbH

Kurzbeschreibung: Das FT-IR-Mikroskop wird zur visuellen Betrachtung von zwei- und dreidimensionalen Kunststoffproben sowie deren IR-Analyse eingesetzt. Mittels des FT-IR-Mikroskops kann die chemische Zusammensetzung von den Kunststoffoberflächen untersucht werden, um Verunreinigungen, Defekte, Partikel, Fasern usw. zu identifizieren. Das LUMOS II ist ein alleinstehendes FT-IR-Mikroskop, in dem ein FT-IR-Spektrometer integriert ist. Alle beweglichen Komponenten sind motorisiert und elektronisch kodiert.
Proben: Kunststoffe (Granulate, Pulver, Flakes, flächige Prüfkörper), Pasten und Flüssigkeiten
Anwendungen: Untersuchung der Ursachen von Produktfehlern inkl. Einschlüsse und Inhomogenität. Erfassung der chemischen Zusammensetzung komplexer Materialien, wie bspw. mehrschichtige Strukturen, Laminate, Verbundwerkstoffe, Beschichtungen, Partikeln, Fasern und Lacken.